美国Calmetrics标准片底材铜上镀锡Sn/Cu

美国Calmetrics标准片底材铜上镀锡Sn/Cu标准片是用来为膜厚测试仪建立标准档案的，同时也是检验和校准膜厚测试仪测试数据是否准确的为一标准。它属于易损易耗件，但是其的使用寿命却与操作方法及存放环境息息相关，若操作得当，小心保护且存放在干燥密封的皿器内，那么可大大延长其的使用时间。膜厚标准片是膜厚测试仪（X射线镀层测厚仪）*的。

美国Calmetrics标准片底材铜上镀锡Sn/Cu实物图片：

美国Calmetrics公司专业生产X射线荧光镀层薄膜标准件及元素含量标准件，提供对标准件的校准服务，公司通过ISO/IEC 17025认证。公司提供所有证书符合NIST（National Institute of Standards and Technology美国国家标准与技术研究院）标准或ANSI（American National Standards Institute美国国家标准学会）标准。其生产的标准片质量精良，精度高、稳定性好。

Calmetrics镀层标准片适用于费希尔Fischer、韩国ISP、日立Hitachi（包括：牛津仪器Oxford（CMI）、精工Seiko）热电Thermo、Veeco、微先锋Micro Pioneer、岛津、电测、纳优、天瑞、华唯等各厂牌的测厚仪。

X射线测厚仪镀层标准片一般分为单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。如：单镀层：Au/xx，双镀层：Au/Ni/xx，三镀层：Au/Pd/Ni/xx，合金镀层：Sn-Pb/xx，合金镀层：Ni-P/xx。

镀层标准片适用于X射线类仪器的标准。市面上绝大多部分的手持式荧光仪的厚度标准件都来自于美国Calmetrics公司。

X射线标准片又叫膜厚仪校准片或者薄膜片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的仪器标准化校准及建立测量分析档案。

美国Calmetrics标准片底材铜上镀锡Sn/Cu常用规格如下：